統合されたDewarのより涼しいアセンブリが付いているT2SL 640x512/15μm LWIRの赤外線探知器

起源の場所 ウーハン、湖北省、中国
ブランド名 GST
証明 ISO9001:2015; RoHS; Reach
モデル番号 C615S LWIR
最小注文数量 1部分
価格 Negotiable
支払条件 L/C、T/T

試供品およびクーポンのための私に連絡しなさい。

Whatsapp:0086 18588475571

Wechat: 0086 18588475571

スカイプ: sales10@aixton.com

心配があれば、私達は24時間のオンライン・ヘルプを提供する。

x
商品の詳細
決断 640x512 ピクセル ピッチ 15μm
安定したパワー消費量 <8W 高い感受性 NETD≤25mK
スペクトル領域 3.7~4.8μm (MW);7.7~9.5 (LW) サイズ 142x58.5x71mm
ハイライト

T2SL LWIRの赤外線探知器

,

8W LWIRの赤外線探知器

メッセージ
製品の説明
GSTの赤外線によるC615S

 

T2SL 640x512/15µm LWIRは統合されたDewarのクーラー アセンブリが付いている赤外線探知器を冷却した

 

製品の説明

 

C615S LWIRはdewarのクーラー アセンブリをであるT2SLの1つ冷却した全体的なセンサー技術(GST)によって開発された赤外線探知器を統合した。それは640x512/15µmのタイプIIの超格子(T2SL)、高性能7.7~9.5μmの長波の赤外線(LWIR) wavebandsのために設計されている統合された探知器のクーラー アセンブリ(IDCA)である。

 

15µmへの640x512決断そして減らされたピクセル ピッチによって、C615S LWIRはdewarのクーラー アセンブリを提供する明確なイメージおよび優秀な性能を統合した。それは最先端の技術、高い量子効率、高いフレーム率、高い感受性、低雑音、最もよい不均等等で特色になる。

 

LWIRの探知器として、それは砂または塵の気候の条件の下で高性能を示し、日光の明滅か高温炎によって影響されない。

 

主な特長

 

- 決断:640x512

- ピクセル ピッチ:15µm

- 高い感受性

- よいイメージ投射効果

- 低雑音

- 安定した性能

- 優秀な不均等

 

製品仕様書

 

モデル C615S LWIR
材料 T2SL
決断 640x512
ピクセル ピッチ 15um
スペクトル領域 7.7μm~9.5μm LW
働くモード スナップショット;ITR及びBinningの統合モードを織り交ぜるため;Windowsモード;Anti-blooming
充満容量 ITR:12.22Me-/6.67Me-
Binningを織り交ぜなさい:24.44Me-/13.33Me-
ダイナミック レンジ ITR:≥76dB
Binningを織り交ぜなさい:≥77dB
出力チャネル 4;出力ごとの22.5までMpixel/s
NETD ≤30mK (F2 ITR)
≤25mK (F2はBinningを織り交ぜる)
有効なピクセル率 ≥99.5%
応答の不均等 ≤8%
より涼しいタイプ RS058
安定したパワー消費量 <8w>
最高のパワー消費量 <17w>
電源 24V DC
放射能冷却期間 <5min30s>
重量 ≤600g
次元(mm) 148x58.5x71
働く温度 -45°C | +71°C

 

産業適用

 
C615S LWIRによって冷却されるIRの探知器は広く利用されているリモート・モニタリング システム、飛行視野の強化システム、Multi-sensorのペイロード等のような多くの地域。
 
統合されたDewarのより涼しいアセンブリが付いているT2SL 640x512/15μm LWIRの赤外線探知器 0
 

名誉及び証明書

 
統合されたDewarのより涼しいアセンブリが付いているT2SL 640x512/15μm LWIRの赤外線探知器 1
 

FAQs

 

1.WhatはNETDであるか。

NETDは「騒音相当温度相違」を示す。それはどれだけうまくのための赤外線画像の探知器がイメージの熱放射の非常に小さい相違の間で区別できるか測定である。NETDはmilliケルビン(mK)に普通表現されている。NETD図がより低ければ通常、より高く熱感受性は示す。

 

2. SWaP3は何であるか。

SWaP3はサイズ、重量、力、性能および価格を示す。それは赤外線企業の技術動向を示す。

 

3. DRIは何であるか。

DRIは通常赤外線画像システムの検出、認識および同一証明の間隔を参照する。それは赤外線画像システムの性能を判断する重大な変数である。